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高分辨率顯微鏡載玻片靶
- 產(chǎn)品型號：
- 更新時間：2023-12-19
- 產(chǎn)品介紹：高分辨率顯微鏡載玻片靶采用高精度電子束光刻技術(shù)設(shè)計。這些圖案蝕刻在光譜透射范圍廣泛 （DUV-VIS-NIR） 的 10 × 10mm² 熔融石英基底上，在該襯底上施加高光密度的鉻層。通過去除鉻層，形成尺寸低 100nm 的圖案。本產(chǎn)品提供優(yōu)異的尺寸穩(wěn)定性，并安裝在金屬顯微鏡載玻片支架中。每個靶上的負(fù)片圖案允許結(jié)構(gòu)透明，而背景被鉻層阻擋。
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 |
高分辨率顯微鏡載玻片靶
Ø小圖案尺寸 - 100nm 和 3300 lp/mm
Ø采用高精度電子束光刻技術(shù)制作
Ø負(fù)片圖案設(shè)計
高分辨率顯微鏡載玻片靶采用高精度電子束光刻技術(shù)設(shè)計。這些圖案蝕刻在光譜透射范圍廣泛 (DUV-VIS-NIR) 的 10 × 10mm² 熔融石英基底上，在該襯底上施加高光密度的鉻層。通過去除鉻層，形成尺寸低 100nm 的圖案。高分辨率顯微鏡載玻片靶提供優(yōu)異的尺寸穩(wěn)定性，并安裝在金屬顯微鏡載玻片支架中。每個靶上的負(fù)片圖案允許結(jié)構(gòu)透明，而背景被鉻層阻擋。
高分辨率顯微鏡載玻片靶
高分辨率顯微鏡美國空軍USAF測試目標(biāo)板可輕松確定透射光中物鏡的分辨率極限，并由 59 個圖案組成，水平和垂直排列的線圖案為 7.5 3300 lp/mm。該測試目標(biāo)板還具有 5 個直徑在 4.0-0.25μm 之間的針孔，可用于微成像光學(xué)元件的詳細(xì)表征。
高分辨率顯微鏡星測試目標(biāo)板
高分辨率顯微鏡星測試目標(biāo)板由 5 顆西門子星組成，其特點是星中心的錐形部分制造的小寬度為 150nm。該測試目標(biāo)板非常適合于確定具有非常高數(shù)值光圈的顯微鏡物鏡的分辨率。
高分辨率顯微鏡檢查板
高分辨率顯微鏡檢查板的特點是 50 x 50 平方微米的正方形總尺寸為 9.0 x 9.0 平方毫米。檢查板非常適合于測試圖像歪斜和曲率，以及確定由于直線和銳邊導(dǎo)致的圖像質(zhì)量。
高分辨率顯微鏡載玻片靶通用規(guī)格
Pattern Tolerance: | 100nm/cm = 10-5 |
光密度 OD: | OD>8 @ 400nm, 6 @ 550nm, 4.5 @ 750nm, 3.6 @ 1000nm |
光譜范圍: | 200 - 2000nm |
基底: | Fused Silica w/Chrome deposit |
尺寸 (mm): | 10 x 10 x 1 |
構(gòu)造 : | Stainless Steel, 75 x 25 x 1.5mm, microscope slide format |
訂購信息：
標(biāo)題 | 產(chǎn)品號 |
High Res Microscopy Star Target | #37-538 |
High Res Microscopy USAF Target | #37-539 |
High Res Microscopy Checker board | #37-540 |
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